100μΩ分辨率｜Huace DT-L3 多通道導通電阻測試系統

一、高準度測量能力

華測儀器 Huace DT-L3 導通電阻測試系統，是為電子器件連接可靠性評估而設計。設備采用四端子測試法，實現微歐級高準度測量，可減少引線電阻、接觸電阻引入的測量干擾，分辨率可達 100μΩ，能夠準確捕捉焊點、接點在試驗過程中微弱的電阻漂移與波動變化，及時識別早期隱性連接失效問題。

二、多通道環境模擬測試

系統標配 128 通道并行測試能力，通道數量支持靈活擴展，可實現多組試樣同步并行數據采集，降低批量試驗的測試周期，優化可靠性試驗效率。設備可對接外部環境試驗箱，適配高低溫循環、溫度交變等環境試驗條件，能夠完成全溫域條件下導通電阻的長時間連續監測，復現器件實際環境工況，還原溫度應力對連接觸點性能帶來的影響。

三、豐富的應用領域

該設備應用覆蓋面廣，可用于 PCB 焊接接點、BGA 封裝焊點、繼電器觸點、連接器以及新能源高壓組件等多種器件的可靠性驗證，普遍服務于電子研發、質量檢測、新能源等領域，為器件連接可靠性分析、失效機理研究提供可靠的數據支撐。