多試樣兼容型高溫熱電性能測試平臺的設計與應用

HC-RD-1100 塞貝克系數電阻測試儀，是為熱電材料性能表征研發而設計，為功能材料熱電性能測試提供解決方案。

一、雙參數同步測試，減少裝夾誤差

設備采用靜態直流法搭配四端測試法，同一工位同步完成塞貝克系數、電阻率兩項關鍵參數測試，減少多次裝夾帶來的系統誤差，大幅提升實驗效率與數據可靠性。

二、靈活樣品夾持，多規格試樣兼容

搭載自研三明治樣品支架，探針間距支持 4/6/8mm 多檔位可調，可兼容圓柱、棱柱、圓盤等多種形狀塊狀試樣，樣品裝夾便捷，適配不同規格樣品測試需求。

三、寬溫域多氣氛環境，模擬真實環境工況

設備測試溫區覆蓋室溫至 1100℃，支持真空、惰性、氧化、還原多種氣氛環境調控，能夠復現材料真實環境工況，模擬多種高溫環境下的材料性能變化。

四、配套測控軟件，數據自動采集處理

配套華測儀器測試軟件，可自動完成信號激勵、數據采集、實時運算處理，實時輸出溫度 - 性能變化曲線，原始測試數據支持一鍵導出，方便科研人員開展后續數據分析與整理。

五、多領域應用場景，支撐新材料研發

該設備普遍適用于熱電轉換材料、半導體功能材料、高溫合金、導電高分子等多種材料體系，可滿足高校實驗室、科研院所與新材料企業在材料篩選、工藝優化、性能驗證等方面的測試需求，為熱電新材料研發提供穩定可靠的測試方案。